{"id":9220,"date":"2024-10-06T01:56:58","date_gmt":"2024-10-06T01:56:58","guid":{"rendered":"https:\/\/fmipa.unj.ac.id\/kimia\/?p=9220"},"modified":"2025-10-16T03:46:41","modified_gmt":"2025-10-16T03:46:41","slug":"workshop-teknik-analisis-thin-film-pengenalan-afm-untuk-analisis-topography-dan-surface-roughness-thin-film-dasar-teori-dan-praktis","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/fmipa.unj.ac.id\/kimia\/?p=9220","title":{"rendered":"Workshop Teknik Analisis Thin Film: Pengenalan AFM untuk Analisis Topography dan Surface Roughness Thin Film (Dasar Teori dan Praktis)"},"content":{"rendered":"\t\t<div data-elementor-type=\"wp-post\" data-elementor-id=\"9220\" class=\"elementor elementor-9220\" data-elementor-post-type=\"post\">\n\t\t\t\t\t\t<section class=\"elementor-section elementor-top-section elementor-element elementor-element-7a6d1c1 elementor-section-boxed elementor-section-height-default elementor-section-height-default\" data-id=\"7a6d1c1\" data-element_type=\"section\" data-e-type=\"section\">\n\t\t\t\t\t\t<div class=\"elementor-container elementor-column-gap-default\">\n\t\t\t\t\t<div class=\"elementor-column elementor-col-100 elementor-top-column elementor-element elementor-element-9e55bb8\" data-id=\"9e55bb8\" data-element_type=\"column\" data-e-type=\"column\">\n\t\t\t<div class=\"elementor-widget-wrap elementor-element-populated\">\n\t\t\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-3b5e654 elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"3b5e654\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p><b>Program Studi Kimia Universitas Negeri Jakarta (UNJ)<\/b><span style=\"font-weight: 400;\"> berkolaborasi dengan <\/span><b>Nano Center Indonesia <\/b><span style=\"font-weight: 400;\">sukses menyelenggarakan <\/span><i><span style=\"font-weight: 400;\">workshop <\/span><\/i><span style=\"font-weight: 400;\">metode karakterisasi material yang mengangkat topik mengenai \u201c <\/span><i><span style=\"font-weight: 400;\">Pengenalan AFM untuk Analisis Topography dan Surface Roughness Thin Film (Dasar Teori dan Praktis)<\/span><\/i> <span style=\"font-weight: 400;\">\u201d pada tanggal\u00a0 18 September 2024, pukul 13.30 hingga 15.00 WIB. Acara yang berlangsung secara <\/span><i><span style=\"font-weight: 400;\">offline <\/span><\/i><span style=\"font-weight: 400;\">di Gedung KH. Hasjim Asj\u2019arie ini menghadirkan narasumber berpengalaman dari Nano Center Indonesia, yaitu <\/span><b>Arramel, Ph.D<\/b><span style=\"font-weight: 400;\"> selaku pakar instrumen AFM. Workshop ini dihadiri oleh 40 peserta yang berasal dari Program Studi Kimia Angkatan 2021 dan 2022.\u00a0<\/span><span style=\"font-weight: 400;\">Workshop ini memfasilitasi mahasiswa khususnya mahasiswa Program Studi Kimia dalam memperkaya pengalaman dan wawasan mengenai konsep dasar dan teknik analisis instrumen <\/span><i><span style=\"font-weight: 400;\">Atomic Force Microscope <\/span><\/i><span style=\"font-weight: 400;\">(AFM). Rangkaian acara dimulai dengan pembukaan, pembacaan doa, dan kata sambutan dari Prof. Dr. Setia Budi, M.Sc.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t<section class=\"elementor-section elementor-top-section elementor-element elementor-element-d1500c8 elementor-section-boxed elementor-section-height-default elementor-section-height-default\" data-id=\"d1500c8\" data-element_type=\"section\" data-e-type=\"section\">\n\t\t\t\t\t\t<div class=\"elementor-container elementor-column-gap-default\">\n\t\t\t\t\t<div class=\"elementor-column elementor-col-100 elementor-top-column elementor-element elementor-element-2f51e78\" data-id=\"2f51e78\" data-element_type=\"column\" data-e-type=\"column\">\n\t\t\t<div class=\"elementor-widget-wrap elementor-element-populated\">\n\t\t\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-d98ef4b elementor-widget elementor-widget-image\" data-id=\"d98ef4b\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"image.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<img fetchpriority=\"high\" decoding=\"async\" width=\"1024\" height=\"768\" src=\"https:\/\/fmipa.unj.ac.id\/kimia\/wp-content\/uploads\/2024\/10\/6057710166377349257.jpg\" class=\"attachment-large size-large wp-image-9225\" alt=\"\" \/>\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t<section class=\"elementor-section elementor-top-section elementor-element elementor-element-975cead elementor-section-boxed elementor-section-height-default elementor-section-height-default\" data-id=\"975cead\" data-element_type=\"section\" data-e-type=\"section\">\n\t\t\t\t\t\t<div class=\"elementor-container elementor-column-gap-default\">\n\t\t\t\t\t<div class=\"elementor-column elementor-col-100 elementor-top-column elementor-element elementor-element-1796575\" data-id=\"1796575\" data-element_type=\"column\" data-e-type=\"column\">\n\t\t\t<div class=\"elementor-widget-wrap elementor-element-populated\">\n\t\t\t\t\t\t<div class=\"elementor-element elementor-element-a4ff20d elementor-widget elementor-widget-text-editor\" data-id=\"a4ff20d\" data-element_type=\"widget\" data-e-type=\"widget\" data-widget_type=\"text-editor.default\">\n\t\t\t\t<div class=\"elementor-widget-container\">\n\t\t\t\t\t\t\t\t\t<p><b>Pak Arramel, Ph.D<\/b><span style=\"font-weight: 400;\"> selaku narasumber memulai pemaparan dengan menjelaskan sejarah dan perkembangan instrumen AFM (<\/span><i><span style=\"font-weight: 400;\">Atomic Force Microscope<\/span><\/i><span style=\"font-weight: 400;\">) dari konsep STM (<\/span><i><span style=\"font-weight: 400;\">Scanning Tunneling Microscope) <\/span><\/i><span style=\"font-weight: 400;\">yang ditemukan oleh Gerd Binnig dan Heinrich Rohrer pada tahun 1981. Dimana, <\/span><i><span style=\"font-weight: 400;\">Scanning Tunneling Microscope <\/span><\/i><span style=\"font-weight: 400;\">ini menggunakan prinsip kuantum tunneling untuk mendapatkan citra permukaan pada skala atom.\u00a0<\/span><\/p><p><span style=\"font-weight: 400;\">Berikutnya, peserta diajak untuk mengenal lebih dalam mengenai instrumen AFM yang ditemukan pada tahun 1986. Instrumen ini memanfaatkan interaksi gaya antara ujung probe yang sangat tajam dengan permukaan sampel untuk menghasilkan gambar topografi dengan resolusi tinggi. Alat ini bekerja dalam tiga mode utama, yaitu mode kontak, mode non-kontak, dan mode intermittent. Tidak hanya itu, AFM mampu mengukur sifat mekanis, kimia, dan listrik dari permukaan suatu sampel, sehingga sering digunakan untuk analisis thin film karena kemampuannya untuk mencitrakan struktur pada skala nanometer dan mengukur kekasaran permukaan. Beberapa kelebihan AFM yang disampaikan oleh presenter diantaranya adalah teknik ini tidak merusak sampel selama pengukuran, mampu mencitrakan permukaan dengan resolusi tinggi, dan dapat digunakan pada sampel konduktif maupun non-konduktif, sehingga pengaplikasiannya sangat luas. Setelah sesi pemaparan, peserta dipersilahkan untuk mengajukan pertanyaan kepada narasumber untuk memperkuat fondasi pemahaman dan menciptakan interaksi yang lebih aktif. Kemudian, rangkaian acara ditutup dengan penyerahan simbolis sertifikat kepada presenter dan sesi dokumentasi.\u00a0<\/span><\/p><p><span style=\"font-weight: 400;\">Dengan terselenggaranya workshop ini, diharapkan dapat membekali mahasiswa dengan pengetahuan dan keterampilan praktis yang relevan di bidang kimia material, serta mempersiapkan mereka untuk menghadapi tantangan di dunia kerja maupun riset. Selain itu, adanya kolaborasi antara Program Studi Kimia UNJ dengan Nano Center Indonesia ini diharapkan dapat terus berlanjut dan memberikan kontribusi nyata dalam pengembangan ilmu pengetahuan dan teknologi di Indonesia.<\/span><\/p>\t\t\t\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/div>\n\t\t\t\t\t<\/div>\n\t\t<\/section>\n\t\t\t\t<\/div>\n\t\t","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Program Studi Kimia Universitas Negeri Jakarta (UNJ) berkolaborasi dengan Nano Center Indonesia sukses menyelenggarakan workshop metode karakterisasi material yang mengangkat topik mengenai \u201c Pengenalan AFM untuk Analisis Topography dan Surface Roughness Thin Film (Dasar Teori dan Praktis) \u201d pada tanggal&nbsp; 18 September 2024, pukul 13.30 hingga 15.00 WIB. Acara yang berlangsung secara offline di Gedung&#8230;<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":9233,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_kad_post_transparent":"","_kad_post_title":"","_kad_post_layout":"","_kad_post_sidebar_id":"","_kad_post_content_style":"","_kad_post_vertical_padding":"","_kad_post_feature":"","_kad_post_feature_position":"","_kad_post_header":false,"_kad_post_footer":false,"_kad_post_classname":"","footnotes":""},"categories":[1],"tags":[],"class_list":["post-9220","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-uncategorized"],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/fmipa.unj.ac.id\/kimia\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/posts\/9220","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/fmipa.unj.ac.id\/kimia\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/fmipa.unj.ac.id\/kimia\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/fmipa.unj.ac.id\/kimia\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/fmipa.unj.ac.id\/kimia\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fcomments&post=9220"}],"version-history":[{"count":5,"href":"https:\/\/fmipa.unj.ac.id\/kimia\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/posts\/9220\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":9234,"href":"https:\/\/fmipa.unj.ac.id\/kimia\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/posts\/9220\/revisions\/9234"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/fmipa.unj.ac.id\/kimia\/index.php?rest_route=\/wp\/v2\/media\/9233"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/fmipa.unj.ac.id\/kimia\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fmedia&parent=9220"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/fmipa.unj.ac.id\/kimia\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Fcategories&post=9220"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/fmipa.unj.ac.id\/kimia\/index.php?rest_route=%2Fwp%2Fv2%2Ftags&post=9220"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}