PELATIHAN SEM (Scanning Electron Microscope) 2017
Pelaksanaan: Gedung C Lab FMIPA Lt 2, 6-7 April 2017 Scanning Electron Microscope (SEM) digunakan untuk mengamati struktur permukaan sampel. Kolom terdiri dari penembak elektron yang menghasilkan arus elektron. Arus melewati lubang dan sistem lensa elektronik yang mengontrol aliran elektron. Read more