Workshop Teknik Analisis Thin Film: Pengenalan AFM untuk Analisis Topography dan Surface Roughness Thin Film (Dasar Teori dan Praktis)
Program Studi Kimia Universitas Negeri Jakarta (UNJ) berkolaborasi dengan Nano Center Indonesia sukses menyelenggarakan workshop metode karakterisasi material yang mengangkat topik mengenai “ Pengenalan AFM untuk Analisis Topography dan Surface…