Program Studi Kimia Universitas Negeri Jakarta (UNJ) berkolaborasi dengan Nano Center Indonesia sukses menyelenggarakan workshop metode karakterisasi material yang mengangkat topik mengenai “ Pengenalan AFM untuk Analisis Topography dan Surface Roughness Thin Film (Dasar Teori dan Praktis) ” pada tanggal 18 September 2024, pukul 13.30 hingga 15.00 WIB. Acara yang berlangsung secara offline di Gedung KH. Hasjim Asj’arie ini menghadirkan narasumber berpengalaman dari Nano Center Indonesia, yaitu Arramel, Ph.D selaku pakar instrumen AFM. Workshop ini dihadiri oleh 40 peserta yang berasal dari Program Studi Kimia Angkatan 2021 dan 2022. Workshop ini memfasilitasi mahasiswa khususnya mahasiswa Program Studi Kimia dalam memperkaya pengalaman dan wawasan mengenai konsep dasar dan teknik analisis instrumen Atomic Force Microscope (AFM). Rangkaian acara dimulai dengan pembukaan, pembacaan doa, dan kata sambutan dari Prof. Dr. Setia Budi, M.Sc.
Pak Arramel, Ph.D selaku narasumber memulai pemaparan dengan menjelaskan sejarah dan perkembangan instrumen AFM (Atomic Force Microscope) dari konsep STM (Scanning Tunneling Microscope) yang ditemukan oleh Gerd Binnig dan Heinrich Rohrer pada tahun 1981. Dimana, Scanning Tunneling Microscope ini menggunakan prinsip kuantum tunneling untuk mendapatkan citra permukaan pada skala atom.
Berikutnya, peserta diajak untuk mengenal lebih dalam mengenai instrumen AFM yang ditemukan pada tahun 1986. Instrumen ini memanfaatkan interaksi gaya antara ujung probe yang sangat tajam dengan permukaan sampel untuk menghasilkan gambar topografi dengan resolusi tinggi. Alat ini bekerja dalam tiga mode utama, yaitu mode kontak, mode non-kontak, dan mode intermittent. Tidak hanya itu, AFM mampu mengukur sifat mekanis, kimia, dan listrik dari permukaan suatu sampel, sehingga sering digunakan untuk analisis thin film karena kemampuannya untuk mencitrakan struktur pada skala nanometer dan mengukur kekasaran permukaan. Beberapa kelebihan AFM yang disampaikan oleh presenter diantaranya adalah teknik ini tidak merusak sampel selama pengukuran, mampu mencitrakan permukaan dengan resolusi tinggi, dan dapat digunakan pada sampel konduktif maupun non-konduktif, sehingga pengaplikasiannya sangat luas. Setelah sesi pemaparan, peserta dipersilahkan untuk mengajukan pertanyaan kepada narasumber untuk memperkuat fondasi pemahaman dan menciptakan interaksi yang lebih aktif. Kemudian, rangkaian acara ditutup dengan penyerahan simbolis sertifikat kepada presenter dan sesi dokumentasi.
Dengan terselenggaranya workshop ini, diharapkan dapat membekali mahasiswa dengan pengetahuan dan keterampilan praktis yang relevan di bidang kimia material, serta mempersiapkan mereka untuk menghadapi tantangan di dunia kerja maupun riset. Selain itu, adanya kolaborasi antara Program Studi Kimia UNJ dengan Nano Center Indonesia ini diharapkan dapat terus berlanjut dan memberikan kontribusi nyata dalam pengembangan ilmu pengetahuan dan teknologi di Indonesia.
Bahasa Indonesia 
English