Workshop on Thin Film Analysis Techniques: Introduction to AFM for Topography and Surface Roughness Analysis of Thin Films (Theoretical and Practical Fundamentals)
Program Studi Kimia Universitas Negeri Jakarta (UNJ) berkolaborasi dengan Nano Center Indonesia sukses menyelenggarakan workshop metode karakterisasi material yang mengangkat topik mengenai “ Pengenalan AFM untuk Analisis Topography dan Surface…